質(zhì)構(gòu)儀探頭-食品探頭 TA/SFR
可測量折斷壓力和彎曲特性，主要用于干面條的測試，由于硬質(zhì)小麥的發(fā)芽損傷導(dǎo)致面條質(zhì)地?fù)p傷，或者不同的烘干程序使面條產(chǎn)生了不同的特性，通過該方法可以反映面條的質(zhì)地，包裝運(yùn)輸過程中的抗折斷性。尤其是不僅僅完成常規(guī)的斷條率測試，還可以幫助用戶了解折斷強(qiáng)度和抗彎柔性信息。

質(zhì)構(gòu)儀探頭-食品探頭 TA/SFR
可測量折斷壓力和彎曲特性，主要用于干面條的測試，由于硬質(zhì)小麥的發(fā)芽損傷導(dǎo)致面條質(zhì)地?fù)p傷，或者不同的烘干程序使面條產(chǎn)生了不同的特性，通過該方法可以反映面條的質(zhì)地，包裝運(yùn)輸過程中的抗折斷性。尤其是不僅僅完成常規(guī)的斷條率測試，還可以幫助用戶了解折斷強(qiáng)度和抗彎柔性信息。

質(zhì)構(gòu)儀探頭-食品探頭 TA/SFR
可測量折斷壓力和彎曲特性，主要用于干面條的測試，由于硬質(zhì)小麥的發(fā)芽損傷導(dǎo)致面條質(zhì)地?fù)p傷，或者不同的烘干程序使面條產(chǎn)生了不同的特性，通過該方法可以反映面條的質(zhì)地，包裝運(yùn)輸過程中的抗折斷性。尤其是不僅僅完成常規(guī)的斷條率測試，還可以幫助用戶了解折斷強(qiáng)度和抗彎柔性信息。